瑞柯微炭素材料电阻率测试仪炭素材料电阻率测试仪计算公式，4.3吋液晶屏幕显示，自动显示测试测试电流、电压、温度、电阻率等数据，选配：如配备软件可，通过软件操控仪...

四探针电阻率方阻测试仪、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口...

四探针涂层电阻率测试仪，配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单...

四探针涂层电阻测试仪，采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更...

四探针薄膜电阻率测试仪，半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试，四探针测试仪根据量程可以划分为，低阻四探针测试仪测到-6次方；高阻四探针测试仪测到7次方...

四探针薄膜电阻测试仪，手持式外型结构适用于车间生产、品管抽检，外出、携带测量等要求测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企业.

四探针膜层电阻测试仪按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1...

四探针膜电阻测试仪广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电（屏蔽）布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、电阻测试

智能型方阻测试仪大显示屏，直观度数，稳定性好，可以外接其他控制单元，与其他系统集成使用。适用于覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜；导电（...

导电布方块电阻测试仪，参照标准GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》.GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.GB/T155...

导电性薄膜方阻测试仪测定方法，按标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率...

四探针方块电阻测试仪怎么用，软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度

涂层四探针电阻率测试仪现货，参照 GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及US...

ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤， 改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更...

高温电阻率测试系统数据管理，高温电阻率测试系统 生产企业、高等院校、科研部门对导体材料在高温下电阻率数据的测量。用于：企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗...

导电性陶瓷方块电阻测试仪现货，按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、并...

太阳能电池双电四探针测试仪批发，双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

硅晶块方阻电阻率测试仪厂家，本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器...

涂层双电测电四探针方阻电阻率测试仪，该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进...

导电性纤维四探针测试仪价格，本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针...